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硅漂移探测器_EDS能谱仪探测器为XRF光谱仪和SEM扫描电镜设计-辅光仪器
  • 硅漂移探测器_EDS能谱仪探测器为XRF光谱仪和SEM扫描电镜设计-辅光仪器

硅漂移探测器SDD

这款硅漂移探测器(SDD,Silicon Drift Detector)专业为XRF光谱仪和SEM扫描电镜EDS能谱仪探测器应用而设计,提供窗口材料的选择,从铍(8μm)到薄型聚合物(用于轻型X射线透射),并提供10mm²至60mm²的传感器有源区域. 此外,所有或我们的SEM SDD版本都是无振动的。
型号:
FPIXRF-sdd
品牌:
辅光
价格:
¥0.00
类别:
在线客服邮箱 info@f-lab.cn 服务热线 021-5130 0728 您也可网站留言或在线客服留言垂询,辅光仪器-规模型进口精密科学仪器供应商欢迎您!
  • 商品详情
这款硅漂移探测器(SDD,Silicon Drift Detector)专业为XRF光谱仪和SEM扫描电镜EDS能谱仪探测器应用而设计,提供窗口材料的选择,从铍(8μm)到薄型聚合物(用于轻型X射线透射),并提供10mm²至60mm²的传感器有源区域. 此外,所有或我们的SEM SDD版本都是无振动的。
硅漂移探测器在与创新的基于以太网的数字脉冲处理器相结合时得到优化。 具体配置给每个客户,SDD硅漂移探测器在广泛的输入计数率下提供卓越和稳定的性能,以产生快速X射线图。
硅漂移探测器规格
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SDD探测器典型特征
传感器区域 窗口选项 分辨率eV(Mn K / C)
10mm2 光元件(AP3.3)或8μmBe ≤123-133
30mm2 光元件(AP3.3)或8μmBe ≤126-133
60mm2 光元件(AP3.3)或8μmBe ≤126-133
100mm2 光元件(AP3.3)或8μmBe ≤128-133

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